Aeroflex para pruebas
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Pruebas de semiconductores

Sistemas para Pruebas de semiconductores Serie-AX

La próxima generación de pruebas automatizadas

Flexibilidad real
El estándar de industria modular PXI y la tecnología AXIe proporcionan a los usuarios el control total en las configuraciones de sus sistemas de prueba y rutas de actualización. Las plataformas PXI y AXIe ofrecen una base desarrollada y estable, que dará soporte a la amplia gama de configuraciones y esquemas de trabajo a largo término que se requieren en la industria de los semiconductores.


Costo de prueba sin precedentes
Los estándares PXI y AXIe hacen posible la creación de sistemas e instrumentos de alto rendimiento y bajo costo. Aeroflex ha tomado el liderazgo para combinar estos dos estándares, ofreciendo así sistemas rentables de semiconductores para pruebas de caracterización y producción con un rendimiento escalable sin precedentes.


Esquemas de trabajo alcanzables
El poder de los sistemas de prueba basados en AXIe y PXI reside en la gran cantidad de instrumentos que ofrecen, y en el amplio número de proveedores que tienen disponibilidad de herramientas de software optimizado.

Cobertura de Mercado
La serie AX de Aeroflex de sistemas e instrumentos para pruebas integradas de semiconductores está diseñada especialmente para pruebas de caracterización y producción de los siguientes instrumentos:

Semiconductores de RF para consumidores:

  • Discretos
  • Amplificador de potencia
  • Módulos frontales
  • Sintonizadores
  • RFID/NFC
  • Zigbee®
  • Bluetooth®
  • WLAN
  • Transceptores

Semiconductores de señal mezclada para consumidores:
  • Comunicaciones por cable
  • Audio/Video
  • Interfaz
  • Modems
  • Micro-controladores
  • MEMs


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